RoHS ValidatoⅢ荧光分析仪 _模具商城

RoHS ValidatoⅢ荧光分析仪



信息标题		RoHS ValidatoⅢ荧光分析仪

信息类别		模具设备 - 量具量仪 - 二、三维

所在地区		安徽省-合肥市

发布时间		2008-4-14 15:30:56

发布企业		合肥智泰三坐标精密仪器有限公司

联系人		王经理

产品编号		48149

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　第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。 ◎ 高灵敏度---自动切换4种滤光片在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出最具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。 ◎自动定性分析 A，自动过滤背景 X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。（详见后页背景效果比较图） B，自动剥离重叠峰当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。 C，自动补偿逃逸峰逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高)，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。 D，自动追踪谱图漂移在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。 ◎ 定量分析 A，FP基础参数法 B，标准法 C，1点校正主要技术指标：分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm 样品形状最大460×380mm(高150mm) 样品塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛大气 X射线管靶材 Rh 管电压最大50KV 管电流最大1mA X射线照射径　 1/3/5mm 防护＜0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕）检测器硅SIPIN探测器光学图像观察　倍率15倍软件定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）照射径：1/3/5mm 定量分析：基础参数法/标准法/1点校正计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上内存 256MB以上硬盘 20GB以上 OS WindowXP 监视器 17寸LCD 周围温度 10～35。C（性能温度）/5～40。C（动作温度）周围湿度 5～31。C时温度范围：最大相对湿度80%以下 / 31～40。C时温度范围：相对湿度50%以下电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ 消耗电力 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机）设备重量约65kg(不含桌子、计算机）外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm

合肥智泰三坐标精密仪器有限公司
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